ISO 5579-1985 无损检验.金属材料用X和γ射线照相检验.基本规则
时间:2024-04-29 19:26:19 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9241
【英文标准名称】:Non-destructivetesting;RadiographicexaminationofmetallicmaterialsbyX-andgammarays;Basicrules
【原文标准名称】:无损检验.金属材料用X和γ射线照相检验.基本规则
【标准号】:ISO5579-1985
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1985-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(ISO)
【起草单位】:ISO/TC135
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:射线照相分析;X射线分析;辐射摄影术;金属的;产品;金属制品;试验;X射线;γ辐射;材料试验;无损检验
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:H26
【国际标准分类号】:1060;0755
【页数】:12P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 石英晶体件－电子器件质量评定体系规范 第２部分：分规范－能力批准 第一篇 空白详细规范 |
| 英文名称： | Quartz crystal units -- A specification in the Quality Assessment System for Electronic Components Part 2: Sectional specification -- Capability approval Section 1: Blank detail specification |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
电子元器件与信息技术综合 >>
技术管理 |
| 发布部门： | 中华人民共和国电子工业部 |
| 发布日期： | 1996-07-22 |
| 实施日期： | 1996-11-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 归口单位： | 电子工业部标准化研究所 |
| 起草单位： | 国营北京晨星无线电器材厂和电子工业部标准化研究所 |
| 起草人： | 章怡、宋佩任、邓鹤松、边一林 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 1996-10-01 |
| 页数： | 8页 |
适用范围
石英晶体元件和初级包装的标志应符合GB/T 12273的2.4要求。应在详细规范中给出完整细则。
前言
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子元器件与信息技术综合 技术管理
基本信息
| 标准名称： | 小麦粉湿面筋质量测定方法--面筋指数法 |
| 英文名称： | Method for the determination of wet gluten quality in wheat flour -- Gluten index |
| 中标分类： |
食品 >>
食品加工与制品 >>
粮食加工与制品 |
| 替代情况： | 原标准号SB/T 10248-1995 |
| 发布日期： | 1995-02-15 |
| 实施日期： | 1995-10-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
| 页数： | 3页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 食品 食品加工与制品 粮食加工与制品